PC400 顆粒分析儀

應用領域

• 持續監測壓縮空氣與技術氣體（如 N₂、O₂、CO₂）中的固體粒子含量，以符合 ISO 8573‑1 Class 1 標準
• 即時檢視過濾器性能，一旦有破洞或濾層失效，能迅速偵測與警示

  PC400 顆粒分析儀 優勢

• 高精度光學雷射計數：可偵測粒徑從 0.1 µm 至 5 µm
• 高速取樣流率：28.3 L/min（1 CFM），速度比市場上大多數產品快 10 倍，同時保持高準確度
• 適用多種氣體：可量測壓縮空氣與非腐蝕性技術氣體（如氮氣、氧氣、CO₂）
• 自動化校驗：內附 Class 1 專用過濾器，可現場校驗零點與清潔光學系統
• 模組通訊整合：具 RS‑485 / Modbus‑RTU 接口，能無縫整合至 DS 400 / DS 500 資料記錄平台
• 選擇版本：提供固定安裝與攜帶型方案，後者附堅固外箱，適合外出檢測

  PC400 顆粒分析儀 技術資料

• 粒徑範圍 0.1–5 µm（3 通道：0.1–0.5、0.5–1.0、1.0–5.0 µm）
• 偵測下限與準確度:  0.1 µm 下限；100% 準確率於粒徑 >0.15 µm，50% 準確率於 0.1 µm
• 取樣流率: 28.3 L/min（1 CFM）
• 最大輸入壓力: 測壓減壓器輸入可達 40 bar，對主機壓力限制於 ≦1.6 bar
• 氣體與環境條件: 相對濕度 ≦90%；壓力露點 ≦+10 °C；環境 5–40 °C；測氣 0–40°C（部分資料顯示可達 70 °C）
• 介面: RS‑485（Modbus RTU）
• 電源: 24 VDC / 300 mA
• 結構材質: 不鏽鋼機殼
• 尺寸重量: 約 150 × 200 × 300 mm、重量約 8 kg
• 雷射等級: Class 1（安全等級，無運作風險）